美國Rtec臺階儀

型號：

UP-Dual

產地：

美國

美國Rtec臺階儀
特點：一臺設備上集成非接觸式白光干涉形貌儀+高精度原子力顯微鏡
 
白光干涉
 
白光干涉能夠進行高分辨率圖像的掃描，對表面進行分析。兩種工作模式-相移和白光掃描模式,能夠高精度測量粗糙或者光滑的樣品表面。
 
•      最好的技術來實現高Z向分辨率
 
•      白光干涉法和相移兩種模式實現Z方向的高分辨率。
•      快速圖像處理系統達到400萬像素
•      四色LED相機
 
•      更大的垂直測量范圍達10毫米
 
•      150 mmx150mm馬達控制平臺。
 
•      樣品粗糙度，粗糙表面高度拋光后的光潔度以及表面結構測量，如陶瓷、塑料和輥鋼。
 
•      SPIP專業數據分析軟件
 
原子力顯微鏡
 
探針式輪廓測量能夠進行材料在納米尺度水平的測試。提供掃描范圍70 x70um，探針更換簡單。
 
•      最好的技術來實現Z和XY方向上的高分辨率
 
•      X,Y和Z方向上納米級的分辨率和精度。
•      線性XY壓電陶瓷掃描
 
•      包括振動和不振動的模式
 
•      可選的側向力和相位模成像

注：該儀器未取得中華人民共和國醫療器械注冊證，不可用于臨床診斷或治療等相關用途